能量色散X熒光光譜儀XTU-50B 鍍層膜厚分析儀說明書

發(fā)布日期：2018-01-22 瀏覽次數(shù)：1922

能量色散X熒光光譜儀

XTU-50B 鍍層膜厚分析儀

一、產(chǎn)品型號(hào)

1.1 產(chǎn)品型號(hào)

二、儀器介紹

2.1 儀器概述

2.2 性能優(yōu)勢(shì)

2.3 技術(shù)指標(biāo)

三、儀器硬件主體配置

3.1 設(shè)備外觀

3.1 探測(cè)系統(tǒng)

3.2 X光管

3.3 高壓電源

3.4 微動(dòng)平臺(tái)

3.5 高分辨率CCD

3.6 散熱系統(tǒng)

3.7 防輻射安全系統(tǒng)

四、儀器軟件配置

4.1 軟件界面

4.2 功能特點(diǎn)

五、儀器的外圍設(shè)備

5.1 計(jì)算機(jī)

5.2 噴墨打印機(jī)

5.2 儀器相關(guān)配件及技術(shù)資料

六、及售后服務(wù)

一、產(chǎn)品型號(hào)

1、產(chǎn)品型號(hào)

型號(hào): Ux-720 鍍層膜厚檢測(cè)儀

配置	探測(cè)器	X光管	高壓電源
XTU-50B	AMPTEK SDD型(美國(guó)進(jìn)口)	美國(guó)瓦里安公司進(jìn)口	Spellman(美國(guó)進(jìn)口)

二、儀器簡(jiǎn)介

2.1 儀器概述

XTU-50B鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過3年研發(fā)，專門針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型，三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對(duì)客戶樣品鍍層膜厚測(cè)試、基材成分分析。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

2.2 性能優(yōu)勢(shì)

1.的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即對(duì)樣品鍍層膜厚進(jìn)行測(cè)試

2.除可對(duì)金屬鍍層測(cè)試外，還可對(duì)合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進(jìn)行測(cè)量，開創(chuàng)了XRF對(duì)鍍層測(cè)厚的全面技術(shù)

3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅提高測(cè)量精度

4.業(yè)內(nèi)*提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線

5.三重射線防護(hù)（軟件、硬件、迷宮設(shè)計(jì)），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害

6.儀器外部對(duì)樣品微調(diào)設(shè)計(jì)，降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動(dòng)而使測(cè)試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測(cè)試不準(zhǔn)確性

7.可根據(jù)用戶要求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求

8.業(yè)內(nèi)*家對(duì)達(dá)克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用

9.軟件對(duì)多次測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析功能

10.業(yè)內(nèi)*家既可以測(cè)試鍍層厚度，又可以同時(shí)分析基材及鍍層成分的XRF

2.3 儀器技術(shù)指標(biāo)