三豐525系列表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述：

三豐525系列表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)CS-3200S4特點(diǎn)：
配有寬范圍且高分辨力的Z軸檢出器。
測(cè)量范圍：Z1軸（檢出器）：5mm（分辨力：0.0008μm，測(cè)量范圍為0.05mm時(shí)適用）
X軸：100mm（分辨力：0.5μm）

檢出器的延伸量：Z大70mm（可固定在所需的位置）。
適用*FORMTRACEPAK軟件提供了豐富多樣的分析功能以實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的表面紋理評(píng)估。

更新時(shí)間：2021-09-26

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三豐525系列表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)CS-3200S4

三豐525系列表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)CS-3200S4特點(diǎn)：

配有寬范圍且高分辨力的Z軸檢出器。
測(cè)量范圍：Z1軸（檢出器）：5mm(分辨力：0.0008μm，測(cè)量范圍為0.05mm時(shí)適用)

X軸：100mm（分辨力：0.5μm）

檢出器的延伸量：zui大70mm（可固定在所需的位置）。
適用*FORMTRACEPAK軟件提供了豐富多樣的分析功能以實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的表面紋理評(píng)估。

三豐525系列表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)CS-3200S4技術(shù)參數(shù)

貨號(hào)					CS-3200S4
測(cè)量范圍/ 分辨力	X軸			100mm/0.05μm
	Z1軸（檢出器）			5mm/0.08μm 0.5mm/0.008μm 0.05mm/0.0008μm
	Z2軸（立柱）			1μm
精度（20℃）	X軸			±（0.8+0.01L）μm（L=測(cè)量長(zhǎng)度（mm））
	Z1軸（檢出器）			±（1.5+(2H)/100）μm（H=水平位置上的測(cè)量高度（mm））
驅(qū)動(dòng)部	直線度（X軸）		正常使用下	0.2μm/100mm
			當(dāng)伸出到zui大程度	0.4μm/100mm
	測(cè)量速度		表面粗糙度測(cè)量	0.02,0.05,0.1,0.2mm/s(4-step)
			輪廓測(cè)量	0.02,0.05,0.1,0.2，0.5,1.0,2.0mm/s(7級(jí))
	驅(qū)動(dòng)速度		X軸（水平方向）	0 to 80mm/s 外加手動(dòng)
			Z2軸（垂直方向）	0 to 20mm/s 外加手動(dòng)
	上/下移動(dòng)			300mm（電動(dòng)）
	傾角范圍			±45°
檢出器	檢出方式			差動(dòng)感應(yīng)
	測(cè)力			0.75mN
	測(cè)針名稱	標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針（用于粗糙度/輪廓測(cè)量）		針尖角度：60°圓錐，針尖半徑：2μm，金剛石針尖
		圓錐形（用于輪廓測(cè)量）		針尖角度：30°圓錐，針尖半徑：25μm，藍(lán)寶石針尖
	測(cè)針上/下運(yùn)作			適用（可在半空停頓）