iMOXS測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：

        借助模塊化X射線源iMOXS（IfG 模塊化X射線源），您可以輕松擴(kuò)展您的掃描電子顯微鏡(SEM)的功能。iMOXS 使用電子顯微鏡的現(xiàn)有探測(cè)器，能夠以較低的成本通過(guò)選定法蘭與所有現(xiàn)有類型的SEM結(jié)合。您可在SEM的電子源與額外的X射線源之間進(jìn)行選擇，從而利用一臺(tái)設(shè)備對(duì)樣品進(jìn)行 X 射線熒光分析與電子束微量分析。通過(guò)利用這兩種方法的優(yōu)勢(shì)，您能夠以非常高的分辨率檢測(cè)低濃度元素。

iMOXS測(cè)量系統(tǒng)特性：

1、模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：X射線管和X射線光學(xué)器件能夠依據(jù)特定要求輕松調(diào)整

2、簡(jiǎn)單操作：可通過(guò)SEM監(jiān)控器輕松調(diào)整并查看測(cè)量位置

3、可通過(guò)選定法蘭輕松安裝到所有現(xiàn)有原子力顯微鏡上

4、適用于分析低至10 µm的結(jié)構(gòu)：高質(zhì)量的多毛細(xì)管光學(xué)器件可將 X 射線聚焦在小型測(cè)量區(qū)域上。

5、表面下方檢查：即使表面下方深處的材料也能測(cè)量

應(yīng)用：

1、SEM 映射：快速概覽樣品的元素成分；找出SEM無(wú)法看到的元素

2、故障分析，材料失效與材料疲勞測(cè)試

3、在 SEM 中直接進(jìn)行材料分析，例如測(cè)定鋁合金中的硅與鋅比例

4、鑒定分析

5、ppm 級(jí)的痕量元素證明

檢測(cè)重元素 (Z > 18)